奥林巴斯 X 射线荧光分析仪 VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET

一种便携式分析仪，能够对材料进行高速、无损的元素分析。
Vanta系列的入门机型，专门分析钛之后的合金和贵金属，实现了轻量化和低价位。
它可以在几秒到几十秒内测量金属和合金样品的元素成分，并可以从超过 600 种合金的库中识别类型（等级）。
贵金属（Pt、Au、Rh、Ir 等）可以以克拉和纯度显示。
除了稳健的设计外，还可以进行高精度的组件分析。
相当于IP54的防尘防水性能。
通过 1.2m 美军标准跌落测试。
适用于恶劣环境下的分析工作。

我们正在与制造商（奥林巴斯）合作，可以进行本地演示。
由于这是询价产品，请索取报价。

奥林巴斯X射线荧光光谱仪VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET的应用

当您想要识别对象中包含的成分或合金类型时使用它。
实验室检查水平可以在现场达到，从而能够对体积太大、太笨重或运输到实验室成本太高的物体进行现场分析。
信息可以现场实时获取，有助于决策。
它还有助于提高检查工作的效率和降低成本。

奥林巴斯X射线荧光光谱仪VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET测量原理

通过用X射线照射待测物体并读取产生的荧光X射线，可以分析组成元素和含量。
由于荧光 X 射线对每种元素都有独特的能量，因此可以分析构成元素和含量。

奥林巴斯 X 射线荧光分析仪 VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET 的特点

坚固耐用，可承受恶劣的使用环境

・通过了符合美国军用标准 (MIL-STD-810G) 的 1.2m 跌落测试
・配备 IP54 防尘防水性能，可用于恶劣环境

卓越的分析性能

・采用奥林巴斯独创的创新新技术。低电子噪声设计让您获得更准确的测量结果。
・高 X 射线计数率可实现高分辨率，提高测量速度、LOD（检测限）和再现性。
・再现性稳定，从初学者到经验丰富的操作者，每次都能得到同等的测量结果。

操作简单

・直观的用户界面
・室内外易于阅读的触摸面板彩色显示屏
・即使戴着手套也可以操作的按钮和按钮操纵杆

轻松存储数据

・测量数据可通过 USB 或可选的无线 LAN/Bluetooth® 传输到外部设备或云端
・保存到 microSD 卡

奥林巴斯 X 射线荧光分析仪 VANTA Element VEL-PIN-A1-JPSET 规格