双型膜厚仪 MJ-TG2C 分离型（带细探头） SATTEC
双型膜厚仪 MJ-TG2C 分离型（带细探头） SATTECMJ-TG2C是电磁式薄膜测厚仪和涡流式薄膜测厚仪的两用型号。自动区分黑色金属和有色金属。薄探头如此受欢迎的原因。R面比较强的膜厚计。■适用于黑色金属和有色金属。可测量磁性/非磁性金属基材铁、钢（磁性金属）、铝等薄膜的双型膜厚仪。
双型膜厚仪 MJ-TG2C 分离型（带细探头） SATTEC
MJ-TG2C是电磁式薄膜测厚仪和涡流式薄膜测厚仪的两用型号。自动区分黑色金属和有色金属。薄探头如此受欢迎的原因。R面比较强的膜厚计。■适用于黑色金属和有色金属。可测量磁性/非磁性金属基材铁、钢（磁性金属）、铝等薄膜的双型膜厚仪。