1.5日到货SANKO三高 针孔检测仪 TO-5DP，京都玉崎优势供应

SANKO三高 针孔检测仪 TO-5DP，京都玉崎优势供应

简单介绍： TO-5DP直流和薄膜用于检查薄膜TO-5DP直流和薄膜用于检查薄膜TO-5DP直流和薄膜用于检查薄膜TO-5DP直流和薄膜用于检查薄膜它是一种低功率直流高压探测器，用于检测数百微以下相对薄的薄膜（如氟树脂）的针孔。它可用于检测电子设备和精密仪器等薄绝缘涂层的针孔和缺陷。

产品简介

TO－5DP，SANKO山高，探知器

产品详细信息

TO-５DP 检测薄膜用

可以探测如氟树脂等数百μm以下的比较薄的皮膜用，微孔探测器使用的电流较低的直流电压。用于电子机器、精密机器等薄的绝缘性薄膜的的微孔探测、缺陷检测。

规 格

方 式 直流高电压放电式

探测电压 0.3～5kV

警报方式 亮灯、蜂鸣器

探 头 ABS制的伸缩探头（把手φ32、头部φ25、长度：*短 约540mm～*长870mm)

附带电极刷固定夹子、电线（高压用5m）

电 源 AC85V～264V、50/60Hz、10VA

使用温度 0～40°C（不结露）

尺寸重量 320（W）×230（H）×70（D）mm、约3.2kg

附 属 品 探头收纳袋子、 电源线2m、接地线5m、接地用线5m、

遥控开关线5m、平行电极刷子（30×300mm、黄铜制）

SWT-7000ⅢF膜厚计
SWT-7200III膜厚计
SWT-7100III膜厚计
SWT-7000III膜厚计
AQ-10木材水分计
UDM-550V膜厚计
SNA-3000表面盐分计
Model 232粒度计
Model 318膜厚计
ADO-30拉伸附着力测试仪
518型膜厚计
455型膜厚计
ULT-5000膜厚计
EL-1C-EX膜厚计
UNIBOY-E膜厚计
SWT-9000N膜厚计
CTR-1500E膜厚计

SL-5P连接线
SM-Pen连接线
SL-200E用连接线
Pro-2/SL-120C连接线
CTR-1500E连接线
CTR-2000 III连接线
NFe-8连接线
NFe-0.6连接线
SWT用 NFe-2.0（渦電流）连接线
SP-1100D用支架
Fe-2.5L(NFe-2.0L)连接线
SWT用 Fe-2.5连接线
SM-Pen膜厚计