用于研发和制造的膜厚计（厚度计），可实现非接触式、高精度、宽范围的厚度测量
- 能够在不损坏或变形的情况下测量硬质和软质材料的厚度
- 测厚仪最多可同时测量 31 层
- 高精度 ±0.1 μm
，长期测量重复性高达 ±0.02 μm -
内置长度标准 - 可追溯
至 NIST 标准
- 测量范围宽，从 12 μm 到 80 mm
- 显示软件控制测量参数并报告厚度数据
- API 允许通过 USB 或以太网支持集成到制造流程中

*可提供演示机，可进行样品测量
厚度信息对于各种材料的开发和制造至关重要。为了满足这一需求，布里斯托尔仪器提供了一系列采用成熟光学技术的厚度测量产品。此外，性能水平实现了前所未有的多功能性和便利性。