微小面积光泽度计 GM-26DS 玉崎供应MCRL村上
MCRL村上 微区光泽度计 GM-26DSMCRL村上 微区光泽度计 GM-26DS产品特点符合ISO、ASTM、TAPPI等国内外标准的微区光泽计测量孔径:φ10 mm,测量面积:3 x 3 mm,样品台朝上,因此只需将小样品放在样品台上即可测量。另外,通过特殊订单修改,可以将测量孔径做到小至φ6。当作为测量点确认功能测量样品中的目标部分时,可以使用专用镜子检查测量点。 规格光学条件 ISO 2
MCRL村上 微区光泽度计 GM-26DSMCRL村上 微区光泽度计 GM-26DS产品特点符合ISO、ASTM、TAPPI等国内外标准的微区光泽计测量孔径:φ10 mm,测量面积:3 x 3 mm,样品台朝上,因此只需将小样品放在样品台上即可测量。另外,通过特殊订单修改,可以将测量孔径做到小至φ6。当作为测量点确认功能测量样品中的目标部分时,可以使用专用镜子检查测量点。 规格光学条件 ISO 2
MCRL村上 微区光泽度计 GM-26DS
MCRL村上 微区光泽度计 GM-26DS
产品特点
符合ISO、ASTM、TAPPI等国内外标准的微区光泽计
测量孔径:φ10 mm,测量面积:3 x 3 mm,样品台朝上,因此只需将小样品放在样品台上即可测量。另外,通过特殊订单修改,可以将测量孔径做到小至φ6。当作为测量点确认功能测量样品中的目标部分时,可以使用专用镜子检查测量点。
规格
光学条件 ISO 2813、ASTM D 523、JIS Z 8741
光源 卤素灯12V50W
受光元件 硅光电二极管
测量面积约3×3mm
测量孔径约Φ10mm
用法
油漆表面、印刷表面、涂层表面等的光泽度测量
纸张、磁带、合成树脂等高分子材料的光泽控制
金属板、电镀表面等的光泽管理
瓷砖、瓷器、陶瓷等的光泽控制
追求耐候性试验材料的劣化
片剂光泽控制