ASAHI SOKKI朝日测器切割样品缺陷评估装置 - ALTIS-RP
ASAHI SOKKI朝日测器切割样品缺陷评估装置 | ALTIS-RP使用分辨率为 15 μm 的缺陷图可以轻松校准和验证切割样品的表面缺陷的评估和检查。应用/特点它可以作为离线表面缺陷校准的专家设备，这对于质量评估至关重要。设备配置该设备是必须由用户安装和连接的设备。只需将检测设备和 PC 放置在水平支架上，并用两根电缆连接检测设备和 PC 即可完成安装。排队根据泛光灯的结构，ALTIS 分为
ASAHI SOKKI朝日测器切割样品缺陷评估装置 | ALTIS-RP
使用分辨率为 15 μm 的缺陷图可以轻松校准和验证切割样品的表面缺陷的评估和检查。
应用/特点
它可以作为离线表面缺陷校准的专家设备，这对于质量评估至关重要。
设备配置
该设备是必须由用户安装和连接的设备。
只需将检测设备和 PC 放置在水平支架上，并
用两根电缆连接检测设备和 PC 即可完成安装。
排队
根据泛光灯的结构，ALTIS 分为三种类型。
请根据检查对象和检查缺陷进行选择，并在购买时注明。
*ALTIS-P 可以作为选项定制为鱼眼检查模型。
各种屏幕
检查屏
扫描切割样品并检测缺陷。测试结果可以在下面的四个屏幕上确认。
检查结果画面（检测图显示）
检查结果画面（原始图像显示）
检查结果画面（缺陷列表显示）
检查结果画面（检测图像列表显示）
信息管理画面（结果数据列表）
您可以使用与测试时相同的屏幕配置来检查过去测试的数据。
您可以从过去的测试结果中选择任何数据，并将其以 CSV 格式保存到 USB 存储器。
信息管理画面（检测图显示/原始图像显示/缺陷列表显示/检测图像列表显示）
您可以在与测试时相同的四个屏幕上检查过去的测试结果。
浓度测量画面
可以调出缺陷图像的浓度测量屏幕。
在密度测量屏幕上，您可以分析缺陷的灰度等级和尺寸。
检查条件设定画面
最多可注册100个品种。
可以为每种产品类型注册检测灵敏度和尺寸等各种设置。开始检查时，只需选择注册的产品类型，就会设置适当的检查条件。
波形监视器
*启动设备时，每个屏幕上显示的语言可以从日语、韩语和英语中选择。
可以使用波形监视器功能来调整检测器（摄像机/发射器）。
规格
| 解决 | 宽度方向10μm×长度方向10μm |
|---|---|
| 相机 | C-MOS线传感器相机（单色）16384像素/680MHz |
| 泛光灯 | LED线照明（从下面选择） ・ALTIS-RP（反射/透射） ・ALTIS-R（反射） ・ALTIS-P（透射） |
| 样本量 | 尺寸：210mm x 297mm（A4尺寸） 厚度：0.05mm ~ 最大1.0mm |
| 检测判断 | 明/暗渐变、宽度/长度/面积 |
| 移动速度 | 工作台移动速度 6 m/min。 |
| 检验时间 | 约15秒（每张） |
| 检验范围 | 拍摄范围：160 mm x 230 mm *请联系我们了解检查尺寸（定制设计） |
| 电源 | AC100~220V 50/60Hz |
| 个人电脑 | CPU：Intel Core i7 3.4GHz |