绝缘劣化测试仪 低压 / 恒流型 ( MIG-8600PA ) 即使在短路时也不会烧坏
绝缘劣化测试仪低压 / 恒流型 ( MIG-8600PA )即使在短路时也不会烧坏即使在低压测试中,电流也是有限的,并且可以进行测试后分析。为了获利。特长■ 与MIG-8600B性能相同■ 使用微小电流进行离子迁移检测■ 可用于半导体产品规格MIG-8600PA施加电压+1.0 V - +10 V ( 0.1 V 単位 )通道数 ( 每个基板 )8 ch最多可增设通道数256 ch绝缘电阻测量范围
绝缘劣化测试仪低压 / 恒流型 ( MIG-8600PA )即使在短路时也不会烧坏即使在低压测试中,电流也是有限的,并且可以进行测试后分析。为了获利。特长■ 与MIG-8600B性能相同■ 使用微小电流进行离子迁移检测■ 可用于半导体产品规格MIG-8600PA施加电压+1.0 V - +10 V ( 0.1 V 単位 )通道数 ( 每个基板 )8 ch最多可增设通道数256 ch绝缘电阻测量范围
即使在短路时也不会烧坏
即使在低压测试中,电流也是有限的,并且可以进行测试后分析。为了获利。
■ 与MIG-8600B性能相同
■ 使用微小电流进行离子迁移检测
■ 可用于半导体产品
MIG-8600PA | ||
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施加电压 | +1.0 V - +10 V ( 0.1 V 単位 ) | |
通道数 ( 每个基板 ) | 8 ch | |
最多可增设通道数 | 256 ch | |
绝缘电阻测量范围 | 105Ω - 1014Ω ( 施加电压 100 V 时 ) | |
测量电流测量范围 | 0.01 pA - 50 µA ( 5 种测量范围 ) * 可选择固定范围或者自动范围 ( 0.01 pA – 500 pA / 0.1 pA – 5 nA / 100 pA – 500 nA / 1nA – 5 µA / 10nA – 50µA ) | |
测量范围 施加 100 V 时 电流值测量精度 | 500 pA 范围 : ±( 8 %fs +50 pA ) 5 nA 范围 : ±( 5 %fs +100 pA ) | 500 nA 范围 : ±( 2 %fs +5 nA ) 5 µA 范围 : ±( 1 %fs +10 nA ) 50 µA 范围 : ±( 0.5 %fs +0.1 µA ) |
偏置电压施加方法 | 单信道独立偏置方式 ( 单电源供电 → 1 ch ) | |
偏置电压设定 | +1.0 V - +100 V ( 0.1 V 単位 ) | |
偏置电压放大器 | 远算放大方式 出输出噪音 : 最大 ±5 mV 作为高压放大稳定电源,采用串接式高压稳定电源 采用高压远算放大器,达到 100 微秒级的高速响应 | |
偏置电压精度 | ±( 0.3 % +0.5 V ) 测量范围的 | |
偏置电压测量精度 | ±( 0.3 % +0.5 V ) 测量范围的 | |
最长试验时间 | 9,999 小时 | |
测量电路 | 绝缘电阻方式 : 底测电流计量 | |
电流测量电缆 | 双重构造主动保护电缆 | |
电缆开路检测功能 | 计量电缆连接器脱落检测和警告 | |
收存数据内容 | 收存时间 ▪ 经过时间 ▪ 电阻值 ▪ 施加电压 ▪ 温度 / 湿度 ( 需要恒温箱通信选项 ) | |
电脑 | OS : Windows 10 对应 | |
离子迁移测量模式 | 结束模式 : 在迁移发生点结束 触发模式 : 以迁移发生阈值开始,达到结束阈值时试验结束 时间模式 : 以迁移发生阈值和结束阈值进行发生次数的计数 ( 最多 50 次 ) | |
电源 | AC100 V 50/60 Hz 约 100 VA/ 架次 ( 64 ch ) | |
收纳箱外形尺寸 | W385 × D432 × H227 mm ( 不含突起物 ) | |
重量 | 约 18 kg ( 32 ch ) |