日本IMV艾目微绝缘劣化测试仪 高压型HiP-1000
绝缘劣化测试仪高压型 ( HiP-1000/2000/3000 )实时测量高压和微弱电流I 采用1 个通道 / 1 个电源/ 1 个测量电路方法和双结构有主动保护电缆实现高压应用，这是IMV 的最大特点。特长■ 准确测试电流限制尽管可以施加高电压，但是可以限制低电压。■ 防止操作不正确配备互锁装置，可防止高压应用时发生操作不正确。 防止人为错误。■ 最多可扩展 256 通道 ( 1 个机箱 : 3
绝缘劣化测试仪
高压型 ( HiP-1000/2000/3000 )
实时测量高压和微弱电流
I 采用1 个通道 / 1 个电源/ 1 个测量电路方法和双结构有主动保护电缆实现高压应用，这是IMV 的最大特点。
特长
■ 准确测试电流限制
尽管可以施加高电压，但是可以限制低电压。
■ 防止操作不正确
配备互锁装置，可防止高压应用时发生操作不正确。 防止人为错误。
■ 最多可扩展 256 通道 ( 1 个机箱 : 32 通道 )
即使是 1000 V，也可以添加高达 256 通道。
规格
| HiP-1000 | HiP-2000 | HiP-3000 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 施加电压 | +1.0 V - +1000 V ( 1 V 単位 ) | +100 V - +2000 V ( 10 V 単位 ) | +100 V - +3000 V ( 10 V 単位 ) | |||
| 通道数 ( 每个基板 ) | 8 ch | 4 ch | 4 ch | |||
| 最多可增设通道数 | 256 ch | 32 ch | 32 ch | |||
| 绝缘电阻测量范围 | 105Ω - 1014Ω ( 施加电压 100 V 时 ) | |||||
| 测量电流测量范围 | 0.1 pA - 500 µA ( 5 种测量范围 ) * 可选择固定范围或者自动范围 ( 0.1 pA - 5 nA / 10 pA - 500 nA / 100 pA - 5 µA / 10 nA - 50 µA / 100 nA - 5000 µA ) | |||||
| 测量范围 施加 100 V 时 电流值测量精度 | 5 nA 范围 : ±( 5 %fs +100 pA ) 500 nA 范围 : ±( 2 %fs +5 nA ) | 5 µA 范围 : ±( 1 %fs +10 nA ) 50 µA 范围 : ±( 0.5 %fs +0.1 µA ) 500 µA 范围 : ±( 0.5 %fs +1 µA ) | ||||
| 偏置电压施加方法 | 单信道独立偏置方式 ( 单电源供电 → 1 ch ) | |||||
| 偏置电压设定 | +1.0 V - +1000 V ( 1 V 単位 ) | +100 V - +2000 V ( 10 V 単位 ) | +100 V - +3000 V ( 10 V 単位 ) | |||
| 偏置电压放大器 | 远算放大方式 输出噪音 : 测量范围的 0.05 % 作为高压放大稳定电源，采用串接式高压稳定电源 采用高压远算放大器，达到 100 微秒级的高速响应 | |||||
| 偏置电压精度 | ±( 0.3 % +0.5 V ) 测量范围的 | ±( 0.4 % +0.5 V ) 测量范围的 | ±( 0.5 % +0.5 V ) 测量范围的 | |||
| 偏置电压测量精度 | ±( 0.3 % +0.5 V ) 测量范围的 | ±( 0.4 % +0.5 V ) 测量范围的 | ±( 0.5 % +0.5 V ) 测量范围的 | |||
| 最长试验时间 | 9,999 小时 | |||||
| 测量电路 | 绝缘电阻方式 : 底测电流计量 | |||||
| 电流测量电缆 | 双重构造主动保护电缆 | |||||
| 电缆开路检测功能 | 计量电缆连接器脱落检测和警告 | |||||
| 收存数据内容 | 收存时间 ▪ 经过时间 ▪ 电阻值 ▪ 施加电压 ▪ 温度 / 湿度 ( 需要恒温箱通信选项 ) | |||||
| 电脑 | OS : Windows 10 对应 | |||||
| 离子迁移测量模式 | 结束模式 : 在迁移发生点结束 触发模式 : 以迁移发生阈值开始，达到结束阈值时试验结束 时间模式 : 以迁移发生阈值和结束阈值进行发生次数的计数 ( 最多 50 次 ) | |||||
| 电源 | AC100 V 50/60 Hz 约 100 VA / 架次 | |||||
| 收纳箱外形尺寸 | W430 × D550 × H635 mm ( 不含突起物 ) | |||||
| 重量 | 约 35 kg | |||||