玉崎供应NIRECO尼利可 软X射线缺陷检测系统 NANX-0

针对软X射线袋内部缺陷的检测系统，应对日益增长的安全保障质量控制意识

袋式产品内部缺陷检测系统用X射线照射被检测产品，用X射线线传感器相机捕捉通过它的透射量，并通过图像处理检测缺陷。 缺点数据存储在检测设备中。
尼利可凭借40多年的可见光图像处理分析技术和广泛的图书馆，提供可以高精度检测异物的优质检测设备。

特征

【在线】在加工阶段进行实时检测，并可反馈给加工机 【
离线】对于成品的最终检测，需要检测的袋子被集体检测

• 软 X 射线和图像分析算法用于检测袋子内混合的异物。

• 过去，可以实现质量检查的自动化，以前质量检查是由工人一个接一个地进行，并且依赖于目视检查。

• 无论包装材料的类型如何，例如铝气相沉积膜或内容物不可见的铝包装材料，都可以使用。

• 安全管理

• 根据《电离辐射危害防范条例》第3条的规定，如果在三个月内发生超过1.3 mSv的X射线泄漏，则必须建立控制区域并指定X射线操作主管。

  → 该设备的 X 射线泄漏为 0.5 μSv/h 或更低。 因此，无需设置受控区域或选择X射线操作主管。 示例：当同一名工人每周工作 40 小时时 0.5 μSv/h × 40 小时× 13 周（3 个月）= 0.260 mSv/3 个月

• 安装 X 射线设备的企业必须在安装 X 射线设备前至少 30 天通知主管劳动标准检查局局长。