现货NIRECO尼利可 光学矢量分析仪 OVA5000
现货NIRECO尼利可 光学矢量分析仪 OVA5000现货NIRECO尼利可 光学矢量分析仪 OVA5000现货NIRECO尼利可 光学矢量分析仪 OVA5000概述该测量仪器适用于分析最新的光学设备，如硅光子学。来自内置光源的光以透射或反射模式同时测量连接到光纤的光学设备的所有光传输参数。 此外，基于测量数据，可以在时域和光频域对光学器件进行评估和分析。有两种类型的波长范围：OVA5000 （1
现货NIRECO尼利可 光学矢量分析仪 OVA5000
现货NIRECO尼利可 光学矢量分析仪 OVA5000
现货NIRECO尼利可 光学矢量分析仪 OVA5000
概述
该测量仪器适用于分析最新的光学设备，如硅光子学。
来自内置光源的光以透射或反射模式同时测量连接到光纤的光学设备的所有光传输参数。 此外，基于测量数据，可以在时域和光频域对光学器件进行评估和分析。
有两种类型的波长范围：OVA5000 （1525-1610 nm） 和 OVA5013 （1270-1340 nm）。 两者都可以通过内置气室进行自校准，无需制造商进行校准。
接口
OVA5000 具有一个简单的接口，仅由前面板上的三个光纤连接器、后面板上的一个 USB 端口和一个交流连接器组成。
光源输出（透射模式） 反射输入（在反射模式下）光纤连接器 连接器类型 功能 源 FC/APC公司 探测器 FC/APC公司 透明输入（在透明模式下） 辅助 FC/APC公司 厂家使用
规格
| 性能项目 | 性能 | |
|---|---|---|
| 高速模式*1 | 平均模式*2 | |
| 波长范围 | ||
插入损耗、偏振相关损耗、偏振模色散、次级偏振模色散、波长色散、 群时延， 光学时域响应， 琼斯矩阵元， 光学相位响应 | ||
| 波长范围 | ||
| OVA5000 | 1525-1610纳米 | |
| OVA5013 | 1270-1340纳米 | |
| 波长 | ||
| 标准分辨率 | 1.6pm | |
| 亏损表现 | ||
| 插入损耗精度 | ±0.1分贝 | ±0.05分贝 |
| 回波损耗精度 | ±0.2分贝 | ±0.1分贝 |
| 波长色散 | ||
| 精度 | ±10 ps/nm | ±5 ps/nm |
| 组延迟 | ||
| 精度 | ±0.2 ps/nm | ±0.1 ps/nm |
| 偏振模色散 | ||
| 精度（一阶） | ±0.03ps（100pm步长） ±0.15ps（30pm步长） | ±0.08 ps |
| 精度（二阶） | ±10ps2 | ±2ps2 |
| 偏振相关损耗 | ||
| 消光比（动态范围） | 40分贝 | 50分贝 |
| 精度 | ±0.05分贝 | ±0.03分贝 |
| 测量时序 | ||
| 总性能测量时间*3 | 12 秒 | 55 秒 |
| 最大器件长度（包括引线长度） | ||
| 传输 | 150米 | |
| 反射 | 75米 | |
| 其他尺寸 | ||
| 功耗 | 100 瓦 | |
| 重量（不包括控制器） | 16.2 千克 | |
| 机柜尺寸 | 47×42×21 厘米 | |
※1. 高速模式：无平均校准。 4 次平均测量扫描，30 pm 分辨率带宽，8 m 元件长度（精度通过 NIST 认证样品确认，IL 除外）。 启用高动态范围选项
※2. 平均模式：4 次平均校准扫描、64 次平均测量扫描、30 pm 分辨率带宽、8 m 元件长度（精度由 NIST 认证样品确认，IL 除外）。 启用高动态范围选项
※3. 高速模式，全规格测量。 40nm量程，平均模式：2.5nm量程，不包括校准时间