深圳事务所NIRECO尼利可 X射线荧光分析仪 X-200 Series

概述

• X 射线荧光光谱仪 （XRF） 不仅可以识别构成样品的元素，还可以通过检测用 X 射线照射样品产生的每种元素所产生的特异性荧光 X 射线来分析其成分比例。




• XRF原则上是一种非破坏性和非侵入性的测量设备。




• 应用包括采矿中的矿物分析和采矿领域的勘探钻探，工业领域的金属和合金（如材料）的识别和分类，RoHS和CPSIA等安全一致性测试，SDG领域的废钢厂废金属的识别和分类，环境领域的土壤污染调查， 此外，利用其非侵入性的特性，设想了广泛的领域，例如工艺品的判断。




• X-200 系列是一种流行的型号。 它具有与高端机器几乎相同的测量性能，并具有相同的用户界面。 根据要测量的样品，有两种类型的光源可供选择。




• 除了提供根据您的需求量身定制的软件库外，您还可以使用可选的 PC 软件创建自己的校准曲线。

显示

• X-200系列采用3.5英寸LCD彩色触摸屏，具有大而高的可视性水平。

规格