深圳事务所NIRECO尼利可 X射线荧光分析仪 X-500 Series

概述

• X 射线荧光光谱仪 （XRF） 不仅可以识别构成样品的元素，还可以通过检测用 X 射线照射样品产生的每种元素所产生的特异性荧光 X 射线来分析其成分比例。 XRF原则上是一种非破坏性和非侵入性的测量设备。




• 应用包括采矿中的矿物分析和采矿领域的勘探钻探，工业领域的金属和合金（如材料）的识别和分类，RoHS和CPSIA等安全一致性测试，SDG领域的废钢厂废金属的识别和分类，环境领域的土壤污染调查， 此外，利用其非侵入性的特性，设想了广泛的领域，例如工艺品的判断。




• X-500 系列是 2021 年 6 月在日本发布的最新高级型号。




• 它具有最轻而坚固的金属框架，其狭窄的尖端形状使其能够在狭窄的间隙中测量样品表面。




• 您可以根据要测量的样品和环境从两种类型的光源中进行选择。




• 除了提供根据您的需求量身定制的软件库外，您还可以使用可选的 PC 软件创建自己的校准曲线。

吸头形状

• 与传统型号相比，X-500 系列的窄尖端形状使其可以测量狭窄间隙后面的样品表面，使其成为现场操作的理想选择。

规格