【京都玉崎】【清和光学制作所SEIWA】激光自动对焦LAF5S-C
激光自动对焦MS-200-TWL-LAF激光自动对焦系统全新安装的激光器将采样率提升至上一代型号的约 10 倍。它采用对角线激光，不受图案影响。非常适合晶圆和玻璃等高反射样品的表面检测。此外，它还可选配微分干涉对比 (DIC) 和三波长观察功能。演示视频链接 (YouTube)模型LAF5S-C类型半导体激光器半导体激光器670纳米安全标准3R 类采样率高达 5kHz定位时间外部触发类型：0.2秒
- 型号： LAF5S-C
激光自动对焦
MS-200-TWL-LAF
激光自动对焦系统
全新安装的激光器将采样率提升至上一代型号的约 10 倍。
它采用对角线激光，不受图案影响。
非常适合晶圆和玻璃等高反射样品的表面检测。
此外，它还可选配微分干涉对比 (DIC) 和三波长观察功能。
演示视频链接 (YouTube)
激光自动对焦系统
全新安装的激光器将采样率提升至上一代型号的约 10 倍。
它采用对角线激光，不受图案影响。
非常适合晶圆和玻璃等高反射样品的表面检测。
此外，它还可选配微分干涉对比 (DIC) 和三波长观察功能。
演示视频链接 (YouTube)
| 模型 | LAF5S-C |
|---|---|
| 类型 | 半导体激光器 |
| 半导体激光器 | 670纳米 |
| 安全标准 | 3R 类 |
| 采样率 | 高达 5kHz |
| 定位时间 | 外部触发类型：0.2秒 跟踪类型：0秒 |