日本ODORMONITOR神荣 FPG-100 露点探头校准仪器
FPG系列低露点校准装置能够精确地创造以前难以实现的各种痕量水分水平,并可控制从-100°C DP到10°C DP的宽范围。此外,它还可以连接到各种参考仪器(CRDS 微量水分仪、镜面冷却露点仪等)和待校准仪器(探针式电容露点仪、五氧化二磷露点仪、CRDS 微量水分仪、镜面冷却露点仪等),从而能够校准所有类型的露点仪。此外,它极其紧凑的尺寸和便携性使得在多个地点进行现场校准成为可能,这在以前是不可
- 型号: FPG-100
FPG系列低露点校准装置能够精确地创造以前难以实现的各种痕量水分水平,并可控制从-100°C DP到10°C DP的宽范围。此外,它还可以连接到各种参考仪器(CRDS 微量水分仪、镜面冷却露点仪等)和待校准仪器(探针式电容露点仪、五氧化二磷露点仪、CRDS 微量水分仪、镜面冷却露点仪等),从而能够校准所有类型的露点仪。此外,它极其紧凑的尺寸和便携性使得在多个地点进行现场校准成为可能,这在以前是不可
FPG系列低露点校准装置能够精确地创造以前难以实现的各种痕量水分水平,并可控制从-100°C DP到10°C DP的宽范围。
此外,它还可以连接到各种参考仪器(CRDS 微量水分仪、镜面冷却露点仪等)和待校准仪器(探针式电容露点仪、五氧化二磷露点仪、CRDS 微量水分仪、镜面冷却露点仪等),从而能够校准所有类型的露点仪。
此外,它极其紧凑的尺寸和便携性使得在多个地点进行现场校准成为可能,这在以前是不可能的。
模型 FPG-60 FPG-80 FPG-100 露点范围 -60~10 ℃DP -80~10 ℃DP -100~10 ℃DP 精度1 ±0.1 ℃DP ±0.2~0.1 ℃DP ±0.5~±0.1 ℃DP 露点(霜点)安定性2 ±0.01 ℃DP 飽和温度安定性3 ≦ ±0.01 ℃ 样品流速 2~4.5 升/分钟 系统压力 800~1200百帕 发生类型 温度控制方法/闭环流 响应速度 90 分钟(环境露点 ⇒ -100 °C DP) 饱和温度安定时间 20分钟(当温度变化20摄氏度时) 饱和温度重复性 ±0.03 ℃ 饱和温度控制稳定性 ≤±0.01℃ 露点(霜点)再現性 ±0.05 ℃ 长期安定性 ≦ ±0.01 ℃ 显示参数 饱和温度、压力、流速、摩尔分数 露点仪探头端口 3 个端口(含 3 个 SUS316 丁腈橡胶 O 型圈和 FPG-PA0 密封圈) 露点仪探头
连接尺寸G 1/2、UNF、NPT、M14(可通过适配器选择) 采样循环连接 FPG-60 Swagelok 6mm,FPG-80/100 Swagelok 录像机 展示 7英寸触摸屏(支持HDMI外接输出) 界面 API(通过以太网) 展示 7英寸触摸屏(支持HDMI外接输出) 电源 100~230伏交流电,50/60赫兹,最大电流5安 动作环境 15~30℃,20~75%相对湿度 保管环境 0–50°C,<95%相对湿度(无冷凝) 尺寸(所有型号) 宽450毫米 × 深300毫米 × 高180毫米 重量(全机种) 23公斤